德國Bruker線上研討會:  製作自己的XRF二級標準品技巧與方法

向 FLUXANA 和 Bruker AXS 專家學習實用竅門與策略

 

儘管現代XRF光譜儀上的無標分析方法可以非常準確地產生結果，但某些情況並非如此容易。為了能從FP法中獲得最佳結果，必須對樣品做出某些假設，並且通常測量時間較專用校準所需時間還長。

但是對於專用校準，需要基質匹配的校準標準品，當沒有，或只有很少的驗證參考物質可用於您要的分析材料時，該如何處理呢？

 

在這場60分鐘的網路教育研討會中，來自 FLUXANA 和 Bruker AXS 的專家將介紹一些解決方案，使用廣泛的氧化物校準方法來解決此問題，建立自己的二級標準品，然後進行快速篩選和產品質量控制。研討會最後會進行Q&A時間，您將有機會向專家提問並獲得解答。

 

 

Title: Bruker Webinar: Tips and Tricks for Making Your Own Secondary Standards for XRF

Date: Tuesday, July 28, 2020 (7/28, 週二)

Time: 03:00 PM Central European Summer Time(台灣時間09:00 PM)

Duration: 1 hour

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