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Bruker D2 Phaser X 光繞射儀
所屬分類: X光繞射儀 XRD
概述:

D2 Phaser 是市場上唯一兼具高精度、高檢測效率的桌上型XRD,由於其卓越的分辨率以及低角度和低背景值,該儀器是所有粉末繞射分析應用的完美解決方案。

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詳細介紹

Bruker D2 Phaser X 光繞射儀(XRD)

 

 

 

獲得專利的技術、屢獲殊榮的軟體、帶顯示器的多功能PC和最先進的偵測器,與X射線繞射領域的創新先鋒結合時,您將獲得一台完美的粉末繞射解決方案,並且適合放置於桌上的D2 PHASER。

通過D2 PHASER的X射線繞射(XRD)對晶體樣品進行全面、獨特且非破壞性的鑑別。Bruker D2 PHASER將為您打開現代XRD的大門。這意味著定性和定量相分析、同質異晶體研究、結晶度確定,一直到結構的研究–所有這些能獲得快速、簡單、高效能且高品質的結果。

 

 

D2 PHASER儀器特性

 

頂尖的LYNXEYE偵測器

D2 PHASER獨特之處在於,整合了世界領先的X射線粉末繞射一維偵測器:LYNXEYE。強度方面的性能提高150倍以上,比標準偵測器系統快450倍,而使D2 PHASER處於頂尖地位。此外,LYNXEYE能夠至抑制樣品螢光,即使對於強螢光樣品也能提供出色的峰值背景比,消除對輔助單色器的需要。

 

卓越的數據品質保證與無與倫比的易用性

XRD(用於相位分析的最佳方法)是否可以在不需要相應基礎設施的情況下真正產生高品質的數據?

是的!D2 PHASER的新時代來臨,所需要的只是一個簡單的家用牆上插座,您就可以開始進行出色的分析(Plug'n Analyze),雖然是只需要最小空間的桌上型系統,但在分析性能方面絕不遜色,分辨率、角度精確度和數據統計方面的表現在此類分析儀器中樹立了新標準;值得信賴的數據讓您可以解決複雜的問題。

 

D2 PHASER是一種便攜式多合一儀器,不需要額外的冷卻水或PC外部設備。這意味著能在任何現場即插即用:只需打開發電機,插入電源插座就可開始測量!我們的D2 PHASER具有完全的網絡功能,可讓中央實驗室的XRD專家查看已收集的數據,而不受距離限制。在任何需要的現場使用D2 PHASER,您將節省許多時間和金錢。

 

D2 PHASER提供出色而可靠的分析。全產品系列的嚴謹品質標準包括D2 PHASER的組裝、測試和安全認證。我們向您保證D2 PHASER將為您帶來有別以往的良好繞射和最佳數據體驗。

 

安全保證:
儀器符合有關X射線安全、機器和電氣安全的全球最高法規要求,經獨立機構進行嚴格審查與保證。兩個獨立的故障安全迴路和“ X射線開啟”監控器能保證遵守最新的輻射和個人安全規定。

 

出色的校準保證:
D2 PHASER在交付時已預先校準。每一台儀器都必須通過嚴格的測試程序,該程序基於國際公認參考材料剛玉,儀器附帶剛玉參考標準,您可以隨時
檢查儀器。

 

偵測器保證:
我們保證一維LYNXEYE偵測器幾近完美無缺,由於Bruker AXS獨特的設計,通過將LYNXEYE偵測器整合到D2 PHASER中,它成為世界上最快與最高效的桌上型繞射儀。

在多晶體材料進行的XRD繞射實驗中,入射的X射線束在特定2θ方向上被無數微晶繞射。為了記錄準確的2Theta位置,需要在單點偵測器前有一條狹縫。LYNXEYE實際上提供了150多條狹縫,可以同時記錄150多個2Theta位置。在整個角度範圍內,保證角度精度≤±0.02° 2Theta。為什麼這很重要? 準確和可驗證的儀器校準是準確可靠的相位識別或結構分析的基本要求。

通過使用LYNXEYE偵測器對LaB6(NIST SRM 660a)進行高分辨率XRD測量,獲得小於0.05° 2Theta的極小峰寬;0.1°散度和1.5°索勒狹縫(Soller slit)。為什麼這也很重要?良好的儀器分辨率是解決複雜粉末模式中重疊繞射峰的先決條件。

 

 

人人皆能上手

X射線分析從未如此簡單,多虧DIFFRAC.SUITE,即使是沒有經驗的用戶也可以從一開始就進行完美的測量。

這是普遍X射線分析的工作方式:選擇COMMANDER插件,輸入測量時間和角度範圍並開始。就是如此簡單。

如果已經定義了一個測量方法,那就更快了:選擇“開始工作”,單擊“方法”,然後就能開始。

 

DIFFRAC.SUITE的軟體解決方案不僅限於此,在DIFFRAC.SUITE中可以使用全部功能,使用COMMANDER、CONFIGURATION和TOOLS插件,專家可以控制實驗數據庫的管理、用戶權限以及管理電子紀錄及簽章(21 CFR Part 11)。系統中的一切都以安全,簡單和可靠的方式運作。DIFFRAC.SUITE 具備量身定做的性能,讓任何人都可以輕鬆操作,功能全面並可以由專家透過網路控制。


D2 PHASER是一款成熟的繞射儀:其測量數據與我們所有的DIFFRAC.SUITE解決方案完全相容。熟悉的搜索/匹配和結構數據庫(EVA、TOPAS、DQUANT),都可供XRD專家用於識別、量化和確定晶相的特性。

 

 

任何樣品都能量測

D2 PHASER的革命性不僅在於其分析性能,還在於它在處理各種樣品方面的靈活性。不同的材料特性需要不同的樣品製備,因此,除了一系列由PMMA或鋼製成的標準樣品架之外,D2 PHASER還提供了用於小量樣品、低吸收和弱繞射樣品的樣品架,還有對濾片、環境敏感的樣品以及檢查傾向於顯示優選方位(Preferred Orientation)的材料樣品支架,另有可選的6個位置自動進樣器。

 

 

D2 PHASER優勢

BRAGG2D-監控樣品製備的質量,以Bragg Brentano幾何形狀的2D繞射圖像來可視化樣品製備問題,例如粒徑或優選方位。

運作成本低-無水消耗、由於採用了矽條偵測器技術,因此沒有偵測器氣體、幾乎無限的燈管壽命、可重複使用的樣品架、低功耗(最大650 W)。

 

 

D2 PHASER應用

水泥產業

通過與水泥產業緊密合作,Bruker不斷提高其分析解決方案的性能。

對於D2 PHASER,提供了一種水泥方案軟體包,包含適用於10多種原材料、熟料和不同水泥類型的工廠安裝測量和數據評估方法,這可以對窯爐及礦物學進行有效生產控制。帶有水泥軟體包的D2 PHASER非常適合較小的操作,對於每天要測量許多樣品的大型工廠,請參考D8 ENDEAVOR。

 

 

材料屬性

D2 PHASER是用於研究和品質控制的便攜式桌上型XRD儀器。例如,可以使用TOPAS軟體中的基本參數方法研究晶體結構,為快速可靠地小角度X光散射(Small-Angle X-ray Scattering, SAXS)測量研究奈米結構,或進行微結構研究(微晶尺寸)。

 

 

採礦與礦物

Bruker提供先進的解決方案,可靠地支持地質學家和採礦探勘者隨時隨地對礦床進行定位分析。

 

 

石油和天然氣

D2 PHASER是可移動的桌上型X射線繞射儀(XRD),用於鑑定地質樣品中的塊狀和粘土礦物。此外,X射線繞射儀(XRD)是針對頁岩岩層分析的一項必不可少技術,能夠對礦物進行定性和定量。

 

 

 

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