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Bruker D8 ENDEAVOR X光繞射儀
所屬分類: X光繞射儀 XRD
概述:

Bruker D8 ENDEAVOR操作非簡單,在最低偵測下限同時擁有高測量速度以及快速的樣品載台設計,非常適合工業、學術和研究單位中的多用戶操作。D8 ENDEAVOR還可連接到自動樣品製備系統,在不需操作員的操作下即可送入樣品,確保樣品製備的最高同質性和高品質的測量結果。

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詳細介紹

Bruker D8 ENDEAVOR X光繞射儀

 

 

 

D8 ENDEAVOR具有非常簡單的操作,在最低偵測下限同時擁有高速測量以及快速的樣品載台設計。此系統非常適合應用於工業、學術和研究單位中的多用戶操作。為了進行工業製程中的最佳化和品質控制,D8 ENDEAVOR可連接到自動樣品製備系統,在不需要操作人員的操作下送入樣品,確保樣品製備和測量的最高完整均質性和高品質測量結果。

 

D8 ENDEAVOR儀器特性

在各種條件下都能進行粉末X射線繞射

D8 ENDEAVOR可輕鬆適應各種實驗室和環境,隨時可用並能夠應對任何情況條件


1 kW ECO版本–通過節省能源、單相電力和無需外部冷卻水來降低運行成本

3 kW版本–絕佳的性能適用於有最低偵測和定量限值要求,或最快測量時間的需求

惡劣環境–在高溫、潮濕和多塵的環境中具有最高的可靠性

高海拔–改善冷卻和電氣安全性,使系統能在海拔4000m以上的高度運行

 

 

最佳性能-最低的人員操作需求

D8 ENDEAVOR適合全天候運行,在機殼內部您將發現Bruker 最佳的XRD技術,這是滿足最高分析要求的關鍵。

 

動態光束最佳化(Dynamic Beam Optimization, DBO)–操作人員不須重新配置儀器,電動光學元件可讓光束路徑的幾何構型最佳地適應各種材料所需的測量條件。

 

LYNXEYE偵測器–具有最高的數據品質和最低的定量極限。能量鑑別型LYNXEYE XE-T偵測器具有超前的螢光和白光殘留抑制能力,高計數率以及出色的角分辨率,而且不再需要二級單色儀或一級Kß濾波器。

 

樣品處理–通過在運行時卸載上一個樣品並預載下一個樣品,可以實現高度樣品周轉率。在進行測量時將樣品放入自動進樣器中,就能降低操作人員暴露在X射線輻射的風險中。

 

 

人性化設計

D8 ENDEAVOR的設計考量到日常使用的操作人員,而非XRD專家所獨享。

 

TouchControl和Loader –直覺簡單的使用,讓操作人員所需的培訓降到最低,只需依照圖形將分析方法指配給Loader軟體中顯示的樣品位置即可。

按鈕模板–由實驗室管理者或我們的XRD專家所建立,整合所有工作流程:加載樣品、調整儀器設置、執行測量、運行自動數據評估,並最後在ResultsManager中呈現分析結果。

 

 

 

量身定制的分析解決方案
D8 ENDEAVOR Turn-key版本可用於水泥、礦產、製藥、鋁和金屬產業。包括:

根據產業別的特定要求量身定制儀器配置
最佳化的數據採集和評估軟體包
產業特定的應用培訓和專家支援

 

D8 ENDEAVOR應用範圍

 

水泥產業

XRD與TOPAS Rietveld分析結合,是目前對熱料、旁通系統、水泥窯灰、熟料和水泥進行定量相分析的最有力技術。結合XRD水泥方法軟體包,新款D8 ENDEAVOR是該產業的完美解決方案。除了提供整個生產過程的直接相分析,範圍從原材料、中間產物(如熱粉和粉塵),到熟料和最終水泥,額外的分析亮點是能夠區分Alite多晶體M1和M3,並通過專有的PONKCS方法對非晶相進行定量。

 

 

採礦業

礦物鑑定和定量的最直接方法是使用D8 ENDEAVOR礦物粉末X射線繞射(XRD)。使用TOPAS定量分析能夠可靠地分析複雜的地質材料。此外,叢聚分析技術可用於快速和自動分析大量數據的相似性並生成探勘測繪圖。

 

 

鋁業

控制鋁的生產是一項重要的分析任務,需要強大的X射線繞射(XRD)解決方案。由於冶煉廠的惡劣環境(需要放置XRD儀器)以及對連續探測數百個巨大樣品通量的需求,D8 ENDEAVOR通過可靠的機械裝置和技術創新來應對這些挑戰,減少測量時間同時擴展分析能力。

 

 

金屬產業

X射線粉末繞射(XRD)是一種廣泛用於煉鋼過程和品質控制的分析方法。知道原料中確切的氧化鐵FeO濃度是減少鐵工廠溫室氣體排放的關鍵,FeO含量可以直接從礦物的化學計量和濃度計算得出,通過快速的XRD測定,使其成為滴定分析方法的替代方案。

 

 

呼吸性二氧化矽

D8 ENDEAVOR最適合監測最低量的游離二氧化矽。游離二氧化矽物質會導致肺癌和其他嚴重的健康問題,配備LYNXEYE XE-T檢測器的D8 ENDEAVOR可實現最高的準確性和最低的偵測極限,為了完善二氧化矽解決方案,Bruker提供適用於不同過濾器類型的樣品架以及完整的DIFFRAC.DQUANT軟體方法,該軟體符合美國國家職業安全衛生研究所(National Institute for Occupational Safety and Health)NIOSH Mechod7500二氧化矽分析方法要求,並且還可進行分段校準。

 

 

 

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