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Bruker D8 ADVANCE X光繞射儀
所屬分類: X光繞射儀 XRD
概述:

D8 ADVANCE結合了先進的技術和人體工學設計,具有最大靈活性。該系統能確保提供高品質的分析結果,最短的測量時間和最佳的分析性能,是滿足您分析需求的最有力工具,隨時準備應對新的挑戰。

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詳細介紹

Bruker D8 ADVANCE X光繞射儀

D8 ADVANCE:XRD、PDF和SAXS分析的解决方案

 

 

X射線繞射(XRD)是幾乎能在任何環境條件下提取各類樣品結構訊息的首選方法,不論形狀、大小或成分。最先進X射線繞射儀的重要訴求是絕對開放的設計和不受限制的模組化,以及最大程度的帶給使用者友善、操作便利且安全的解決方案。

 

具備獨一無二的D8繞射儀系列平台的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末繞射和散射應用的理想之選:

典型的X射線粉末繞射(traditional X-ray powder diffraction, XRD)
對分佈函數(Pair Distribution Function, PDF)分析
小角度X射線散射和廣角度X射線散射(Small and Wide Angle X-ray Scattering, SAXS/WAXS)

 

X射線是檢查所有類型樣品的理想、非破壞性方法

XRD可以識別、定量結晶相並確定其晶體結構,而X射線散射一般可以探測奈米結構,並提供有關材料中短程排列的訊息。對於任何分析方法而言,鑑別具有複雜成分的樣品都是艱鉅的挑戰-除了XRD。透過XRD,繞射圖中的每個細節都具有意義,能實現樣品的完整鑑識。繞射圖由波峰位置、強度、波動和其他形狀組成,這些都是鑑別樣品的特徵,利用這些數據,可以詳細推斷出樣品的性質。

D8 ADVANCE與DIFFRAC.SUITE軟體結合,全面為您打開分析大門。透過DIFFRAC.SUITE的協助,您可以輕鬆完成所有任務,並獲得理想的結果。

 

 

多用途的未來設計-DAVINCI.MODE
在DAVINCI.MODE中,D8 ADVANCE可以自行監測和控制每個細節,使系統隨時掌握自己的狀態。每個組件的更換,以及每個狀態的改變都將被自動識別。每個組件都會在系統上註冊其特徵,然後自動進行配置,不再需要進行任何調整。

 

DAVINCI.SNAP-LOCK
DAVINCI.SNAP-LOCK是Bruker獨特的高精度SNAP-LOCK機制,使所有光學元件能夠在幾秒鐘內切換,無需使用工具,並且在DAVINCI.MODE下不需任何調整,所有光學元件即可恢復完美校準狀態。TWIN和TRIO光學元件整合多個光束路徑,不須觸及儀器即可通過軟體進行切換,讓調整儀器配置從未如此簡單快速和可靠。

 

DAVINCI智慧型解決方案
DAVINCI設計附帶許多智慧型解決方案,所有這些解決方案都致力於使您的日常工作更為輕鬆。例如用於安裝非均勻或小樣品的附件、用於無校準安裝相機或針盤指示器的工作台,或獨特的電動防散射屏幕,或用於確定樣品位置的雙雷射無碰撞設計裝置等。

 

 

出色的LYNXEYE XE-T偵測器

快速的數據收集是提高樣品通量必要條件,現代偵測器有效地加快數據收集的速度,高樣品通量的另一個關鍵是數據品質,最重要的是峰值背景比。較低的背景可增強對次要相位的靈敏度,或減少測量時間。Bruker能量分散型LYNXEYE XE-T偵測器結合上述優點,能提供快速的數據收集,以及對螢光和Kβ輻射進行超前過濾,而不需要昂貴、造成強度減弱的額外光學器件,例如反射鏡,單色儀或濾光片。

 

空氣散射在低角度(尤其是在10° 2Theta以下)時對背景有很大貢獻,許多材料(例如藥品或粘土樣品)在此角度範圍內均顯示出繞射峰。LYNXEYE XE-T獨特的“可變活動偵測器視窗”功能與電動防散射屏幕相結合,消除寄生低角度背景散射。

 

高樣品通量還需有效的樣品處理。多樣品台FLIP-STICK和AUTO-CHANGER能夠滿足此要求,能在反射或透射模式下用於幾乎所有類型的樣品:粉末、散裝、懸浮液、少量樣品和對空氣敏感的樣品。樣品的特性會在溫度、壓力、大氣或濕度的影響下發生變化。知道並了解狀況對於提升工業流程,執行品質控製或進行研究是非常重要。D8 ADVANCE擁有許多配備能夠模擬這些環境條件,讓您在實驗室中進行模擬現場的影響研究。
 

 

 

TWIN/TWIN專利光學元件

您遇到的大多數樣品都是多晶性質,可能是粉末、大量樣品、塗層、纖維、懸浮液等。根據要研究的樣品形狀和特性,不同的儀器設置可能更合適。

不需手動重新配置和校準的最佳儀器,對於如相位識別或X射線反射儀(XRR)、低掠射角繞射(GID)與微衍射(μXRD),或在殘餘應力檢查與結構測定等應用,這正是D8 ADVANCE與TWIN/TWIN專利配置的綜合模組化所帶來的優異性能。

 

使用主TWIN,您可以在電機元件支援下於平行光束幾何形狀的Göbel反射鏡(抑制Kβ, 白光及螢光之高階光學反射鏡)和Bragg-Brentano幾何形狀的電動發散狹縫之間切換。使用二級TWIN,可以在赤道Soller狹縫和可變狹縫之間切換。因此您只需點擊滑鼠,即可在不同的儀器幾何形狀之間進行切換,減低故障並且不須校準,這對於多使用者環境來說是吸引人的優勢。TWIN / TWIN設置與D8 ADVANCE的所有樣品台相容。

 

除了多晶類型的樣品外,還存在幾乎完美的單晶樣品,例如磊晶薄膜(epitaxial thin film),這些樣品用於發光二極管、微電子學、功率器件等。在此類樣品中,您需要以極高的精確度測量非常小的晶格參數差異,這通常需要透過具有低光束發散的高單色X射線束來提高角度分辨率,對X射線束的此類要求需要使用通道切割單色器。借助Bruker TRIO光學器件,您只需點擊滑鼠就可更改儀器分辨率,以完美匹配樣品的分析需求(無論是多晶還是磊晶)。TRIO獨特地實現在三種不同主光束路徑間的電動切換:用於Bragg-Brentano幾何結構的電動發散狹縫、用於低掠射角繞射(GID)和X射線反射儀的Göbel反射鏡,以及帶有Göbel反射鏡和通道切割單色儀的高分辨率光路。結合次級TWIN,您可以立即瞭解任何儀器的幾何形狀,而用最佳的儀器設置、防止故障和不須校準條件下測量每個樣品。

 

NOTE: 在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2 R 500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 8011 9nm 金奈米顆粒進行粒度分析

 

其他優異性能

在檢查應力和紋理時,您可以局部分析晶體變形和取向分佈,通常這需要精確的樣品校準和最大強度。Bruker Double Laser系統讓準確的樣品定位變得非常簡單。只需在軟體上點擊樣品中感興趣的點,樣品便會自動校準。完善的UMC工作台可在所有方向上對樣品進行可控的校準和測繪,使用我們的Compact Cradleplus,您可以自動旋轉和傾斜樣品(phi, chi),DAVINCI智慧解決方案有助於在兩個平台上安裝不均勻和薄膜樣品。

 

對於紋理以及許多應力測量,點聚焦比線聚焦更為合適。能快速簡便地在線聚焦和點聚焦之間切換是普遍繞射儀的需求。得益於Bruker AXS專利設計的TWIST-TUBE技術,您可以在兩種聚焦方向之間切換,而無需切斷線路或卸下管柱,更令人驚嘆的是不再需要校準。POLYCAP光學器件可以有效地引導所有X射線光斑上的強度並聚焦在樣品上。

 

D8 ADVANCE配備專利的TWIST-TUBE和PILATUS3 R偵測器,成為功能強大且靈活的XRD2解決方案。這種二維偵測器在一次測量中覆蓋了2θ和γ的大立體角,大幅減少數據收集時間,讓在環境和非環境條件下進行時間緊迫的實驗成為可能。由於特殊設計,LYNXEYE XE-T和PILATUS3 R將D8 ADVANCE的XRD2功能擴展到所有常見的特徵X射線波長,特別是高能輻射,這對於具有高原子序元素材料的繞射或粉末繞射PDF分析是必需的。

 

PILATUS3 R的極高計數率功能使您能夠在直射光束中進行測量而無須衰減器,例如SAXS或校準掃描。此外您可以改變樣品到偵測器的距離,完美最佳化2θ和γ覆蓋率並滿足您的分析需求。偵測器完全整合到DIFFRAC.DAVINCI和DIFFRAC.SUITE中,始終保持完美的校準狀態。

 

 

D8 ADVANCE完全符合所有當前的歐盟指令,建立並保證分析X射線設備的世界最高標準,包括X射線安全性、儀器安全性、電氣安全性和電磁兼容性。D8 ADVANCE已獲得德國國家度量衡標準實驗室(Physikalisch-Technische Bundesanstalt, PTB)授予X射線安全類型認證,如此極高標準大幅提升儀器的可信度。

 

D8 ADVANCE已預先校準,且具有獨特的校準保證,已通過美國國家標準技術研究院(National Institute of Standards and Technology, NIST)的國際認可標準參考材料SRM1976所進行的驗證。每個系統都包含SRM標準,使您能夠隨時監測和記錄儀器性能,堅固耐用且無需維護的測角儀是在儀器的整個使用壽命中保持卓越性能的關鍵因數之一。

 

所有硬體和軟體始終符合最新ISO和cGAMP規範。因此,D8 ADVANCE可以完美地適應cGxP / 21CFR Part11規範的環境中。經驗豐富的應用專家可提供額外資訊,幫助您充分利用儀器並獲得最大效果。

 

Bruker AXS還保證在整個角度範圍內無與倫比的儀器校準度,等於或優於±0.01°2Theta,為什麼這很重要? 準確、精密和可驗證的儀器校準是獲得準確可靠數據結果的先決條件,只有根據國際認可的標準參考材料進行驗證,才能確保整個儀器系統正常運行。Bruker AXS給予遠遠超越儀器本身的品質承諾。 

 

應用範圍

金屬產業                                                                      薄膜計量


 

建築材料                                                                      製藥產業


 

化工製品                                                                      電池產業

 

 

 

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