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Bruker S4 T-Star
所屬分類: 全反射式螢光光譜儀 TXRF
概述:

S4 TStar - 快速高效全反射式超微量元素分析儀

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詳細介紹

 

 

用於超微量元素分析的高性能TXRF光譜儀

 

全反射X射線熒光(TXRF)光譜法是用於各種樣品的痕量元素分析的已知方法。 S4 T-STAR 能夠簡化 TXRF 24/7的日常操作,同時確保分析結果品質。檢測極限的顯著改良伴隨著自動QC程序,有用的軟件程序、樣品類型和載體的獨特多功能性。

 

優勢
•桌上型 TXRF光譜儀 S4 T-STARsub ppb範圍內提供最低檢測限。
•自動質量控制功能提供數據和儀器質量的信心。
•可以直接分析不同載體上許多樣品的最大通用性。
•在工業常規分析中優化 
24/7全天候運行。
•設計用於多用戶操作,高容量的 
90個樣品。
•樣品盤和其他工具的選擇可加速樣品製備,並最大限度地減少錯誤和污染風險。

 

 

關於新藥,食品環境規定的憂慮
S4 T-STAR 是全球供應鏈中食品欺詐預防的有力工具;例如根據糧農組織/世衛組織標準的食品安全,通過直接分析水稻 As水平低而實現。
S4 T-STAR 根據即將到來的“美國和歐盟藥典”準則監測藥物生產中的催化劑元素;例如檢測活性藥物成分Sub- ppm催化劑元素和添加劑。
S4 T-STAR 為水,污水,空氣和土壤分析提供了一個通用的解決方案,用於恢復健康的環境;例如通過直接測量廢水中的污染物,低 ppb範圍內的污泥和污水進行環境監測。

 

傑出的樣品多樣性

S4 T-STAR 是用於分析不同反射載體上各種樣品類型的通用工具,更優於需要完全溶解液體樣品的 ICP設備。

 

 

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