Bruker ARTAX 行動式 Micro-XRF 光譜儀

 

ARTAX 是第一款商用便攜式 μ-XRF 光譜儀，旨在滿足獨特、有價值物件的現場光譜分析要求，尤其是考古學和藝術領域。

該系統可在 Na（11）到 U（92）的元素範圍內同時執行多元素分析，樣品光斑可小至 70 μm，測量是非破壞性和非接觸，故對被測物體沒有任何損害，ARTAX 僅需耗時約 30 分鐘即可完成設置並開始執行測量，常規的主電源就能夠運行 ARTAX，並可根據應用種類及預算來選擇多種不同配置的光譜儀版本，以提供各種功能和用戶舒適度。

 

 

設備特徵與性能

 

＊採用金屬陶瓷技術所專門設計出嚴謹的微焦 X 射線管

＊以多毛細管 X 射線光學系統，產生具有極高強度的初級 X 射線， 與準直器相比，多毛細管透鏡的螢光強度增加了1000 倍以上

 

 

＊嚴謹、高分辨率的無氮 XFlash®SD 探測器，搭配高速/低噪聲電子設備，與 PIN 二極管探測器相比具有明顯更好的分辨率和更高的計數率

 

 

＊先進的樣品視察和分析點定位系統

＊行動式震動阻尼三腳架 - 移動式減震三腳架帶有測量頭，電驅動的 X-Y-Z 定位平台和控制組件，可以使整個測量系統相對於被測物件做自由定位，再現性優於 ±10μm

＊快速 X 射線管交換 - 測量頭由一個包含探測器、CCD 攝像頭和雷射光斑的重要單元組成，激發組件由管殼、X 射線管和 X 射線光學元件組成並以精密鎖安裝固定在側面，可實現快速更換激發源，這使得用戶能夠選擇最合適的激發源或目標材料，以及能夠快速交換 X 射線光學器件

＊ ARTAX 可以快速、輕鬆地應用 W 和 Mo X射線靶材，對任何類型的樣品進行高級分析

＊輕元素分析 - ARTAX 配備了氦氣吹拂系統，適用於輕元素分析。使用氦氣吹拂可使空氣中的測量範圍從 Ti（22）~ U（92）擴展至 Na（11）。使用氦氣代替真空系統具有不會危及樣品的額外好處，這種輕元素能力允許檢測 P（15）、S（16）、Cl（17）、Al（13）和 Si（14），避免這些重要元素被忽略

＊額外功能

更嚴謹的測量頭設計，改善了樣品的可接近性
觸及傳感器，以避免測量頭損壞藝術品
通過終端附加控制改善輻射安全性
增加三個安全觸點，附加警示燈、互鎖裝置等
用於輕元素測量的氦氣吹拂控制及光斑定位的軟件

 

 

通過激光二極管控制光束在樣品上的精確位置以及物體和光譜儀之間的精確距離。 激光光斑調整到迷你鏡頭的焦點，並經由相機可視化，測量頭的移動由 X-Y-Z 平台控制，適用於快速線掃描和元素 mapping。 功能強大的軟件可在整個樣本中創建元素分佈的區域圖像，設備開放式的設計改善與樣品的距離可低至 10 mm，非常適合用於分析各種不均勻和結構化的表面。

 

藝術、鑑識和工業領域表現卓越

 

非破壞性畫作分析

可以直接在現場對藝術品進行空間分辨元素分析，針對最精細結構中的差異進行非破壞性量測。下面的應用實例為對畫作 “The Holy Family“ by Piero di Cosimo 進行分析，並調查畫作中的藍色顏料是否發生變色或降解。

 

   

 

歷史墨跡分析

16-18 世紀手稿多由鐵膽油墨寫成，由於使用天然原料，油墨的主要、次要成分和汙染物具有可變量，對這些可變的組成持續分析便能夠對油墨進行明確的表徵及時間排序。

 

  

 

歷史顏料表徵

大多數歷史顏料第一次使用或合成的時間是已知的，某些時間點後使用哪些顏料 (post quem)，以及哪些顏料在某個時間點前消失(ante quem)，依此原理可以對畫作或其他帶有顏料的物件進行年代排序。

 

   

 

陶瓷的種源研究

化學表徵和陶瓷的來源區域分類需要快速和非破壞性的分析方法，ARTAX 可提供高度重現性、精確的樣品定位和自動針對陶瓷進行線或面掃描。