所屬分類: | 傅里葉轉換紅外光譜 FTIR |
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概述: | INVENIO旨在從常規的質量控製到高階研發進行革新,無論是專注於生產率、精確度或是廣泛的法令規範,INVENIO都能在各方面給予協助支持。 |
Bruker INVENIO® FTIR光譜儀
Bruker INVENIO 能夠適應變更的需求,並支持使用者的工作內容,成為日常分析任務的堅實基礎工具。憑藉新穎高效的光路設計和精確的光學元件(由最先進的 SoC 電子設備控制),能夠提供最佳性能與呈現最小的光譜細節。
功能強大的 OPUS 軟體,簡化了測量程序,能協助初學者和專家,提供廣泛方法來創建工具集,並擴展樣品評估功能。具有完全自動化的 PQ(性能鑑定)/ OQ(操作鑑定)測試程序,可在管理製藥實驗室進行儀器驗證。可選配的 INVENIO觸控屏幕 PC 能夠提供直觀的使用者界面和智慧連接功能,無需電路線或手動傳輸數據。
能夠隨時升級並擴展光譜範圍,可選的步階掃描、快速掃描和交錯式 TRS 模式,涵蓋從 FIR 到 VIS / UV 的每個細節,更換檢測器和分束器等配件僅需極短時間,使用外部模組進行 TGA、顯微鏡和放射分析,FT-Raman 模組能夠增強分析可能性和 GMP、GLP 和 21 CFR part 11 的合規性。
INVENIO 幾乎適用於所有類型樣品,在幾秒鐘內可切換採樣附件,並且透過 TransitTM 進行兩個實驗設置,其中獨立的第二樣品室帶有專用 MIR DTGS 檢測器。PermaSureTM 可持續監控設備配置和執行快速自我檢查確保功能正常,而 PerformanceGuardTM 連續監控所有機械和電子組件來確保最佳儀器性能。
應用領域
具備高靈敏度、光譜/時間分辨率、穩定性、靈活性和可升級的 INVENIO 非常適合應用於各領域,改善任何工業或研究應用領域的日常分析作業。
創新的設計
堅固的干涉儀
RockSolidTM 干涉儀永久校準,可抵抗振動或熱影響,無磨損的樞軸機構和高通量設計使得惡劣環境下也能確保出色的靈敏度、穩定性和可靠性。
可靠的來源
CenterGlowTM 是可管理光源磨損的Bruker技術,能夠確保最佳性能並延長其使用壽命。使用內部光圈輪的兩個內部信號源位置和兩個外部輸入端口均能夠使用。
高度自動化的 INTEGRALTM
得益於高度精確的立方角鏡和主動對準且運行平穩的BMS轉接輪,並具有可重複再現的分束器插入功能,使得INTEGRALTM 干涉儀能夠提供可靠性和舒適性,結合 5 倍 MultiTectTM 檢測器技術,DigiTectTM 檢測器位置和多種光源選件,可以最佳性能覆蓋從 28,000 cm-1到15 cm-1 的完整光譜範圍,而無需手動更改任何光學組件。在整個光譜範圍內可以使用多種分束器,例如 KBr、CaF2、石英、多層、聚酯薄膜和矽固態 BMS。
MultiTectTM 技術可用於 5 個室溫或熱穩定的探測器,例如 DTGS、InGaAs、Si二極管和 GaP。此外 DigiTectTM 插槽允許使用如 LN2 冷卻探測器。 MultiTectTM 單元由軟體控制,可自動訪問 FIR,NIR 和 VIS / UV 測量。
充分的採樣靈活性
改良的 QuickLock 附件安裝座的前端帶有鎖定和釋放按鈕,便於插入和固定體積較大的樣品設備。 此外 INVENIO 可配備 3 個軟件可選的出口端口,用於多個外部模塊
*HYPERION 系列 FT-IR 顯微鏡
*微觀和宏觀 FPA 成像技術
*RAM II FT-Raman 和 PL II 光致發光模組
*TGA-FT-IR 耦合
*PMA 50,用於 VCD 和 PM-IRRAS 的偏振調製附件
*可變的外部樣品室(左右),用於定制實驗
*帶有用於固體/液體光纖探頭的光纖耦合單元
*外部積分領域
*液體自動進樣器
*HTS-XT,高通量篩選
*空氣水界面反射單元