Bruker線上研討會: Micro-XRF 回歸根源系列 - Part1
適合參加此研討會族群
材料科學家
地理和生物研究人員
故障分析專家
對提升掃描條件感興趣的 M4 軟體使用者
50多年前首次描述空間分辨 X 射線螢光，也稱為micro-XRF，從那時起此利基技術在幾個工業和學術應用領域相當普遍。早期的研究與出版物確定了今天仍然適用的相同分析優勢，例如對較大樣品中特定小區域的非破壞性樣品分析，可以更好地描繪化學非均質材料，此外該技術分析速度很快，幾乎不需要樣品製備，就具有主要和微量元素的量測靈敏度。
近年來通過一系列技術發展，此技術的性能得到提升。激發源的進步、增強的信號檢測和處理能力，結合高效用於數據挖掘和讓人讚嘆的量化算法，創造了一種強大多功能的分析技術。因此micro-XRF被認為是材料分析中所不可或缺的技術。
此網絡研討會是三個系列中的第一場。此系列被稱為"回歸根源"，多年來我們建立了許多高質量的網絡研討會，然而根據最近的要求，我們決定讓micro-XRF 分析"回歸根源"。第一場網絡研討會將介紹 micro-XRF作為一種技術，強調多個儀器組件的分析相關性，並從分析的角度討論它們的重要性與意義。 討論的組件包括 X 射線源和光學元件、檢測器、初級過濾器和真空系統等。 第二場網絡研討會將重點討論元素分佈分析，這是此技術的主要功能之一，而最後一場網絡研討會將詳細討論micro-XRF定量分析。
最終我們的目標是提供一個完善的資訊，突顯我們認為此技術的主要功能，並探討 M4 TORNADO 的功能特性如何使其成為市場上最通用的桌上型micro-XRF 儀器。
使用micro-XRF 儀器 M4 TORNADO 掃描指紋 使用micro-XRF 儀器 M4 TORNADO 掃描植物葉子
使用micro-XRF 儀器 M4 TORNADO 掃描電話微芯片
台灣時間3/23(三)下午5點
台灣時間3/23(三)夜間24點
